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德國confovis WAFERinspect測量系統選購指南
閱讀：1070 發布時間：2021-10-13歐洲采購德國confovis WAFERinspect AOIAOI測量系統
公司簡介
onfovis 是工業應用光學 3D 測量系統的系統供應商。自 2009 年以來，該公司一直專注于面向客戶和應用的解決方案。Confovis獲得的“結構照明顯微鏡"共聚焦顯微鏡為工業應用的快速和納米級表面分析開辟了新的前景。使用最新一代的測量系統, Confovis 在單個系統中結合了共焦測量技術和焦距變化。通過這樣做，測量設備專家為汽車和航空航天、工具制造和機械工程、冶金、半導體和光學行業的行業客戶提供了一種節省時間和成本的解決方案，用于大多數不同的測量任務，例如微輪廓測量和粗糙度測量溯源到認證標準，按照有效的規范
產品簡介
快速共焦 3D 測量– 不受材料影響
2D 測量：關鍵尺寸：線/空間、支柱、覆蓋（Halcon、Cognex-Software）
高度自動化：從晶圓處理到結果
通過SECS/GEM向主機提供詳細信息
通過精細對準、KLARFF 文件和簡單的操作模式進行目視檢查
產品型號
歐洲采購德國confovis WAFERinspect 表面測量系統
歐洲采購德國confovis WAFERinspect AOIAOI測量系統