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產(chǎn)品簡介
UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
詳細(xì)介紹
UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
UV-313/340型紫外輻照計特點(diǎn):* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
* 數(shù)字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-313/340型紫外輻照計技術(shù)指標(biāo)：
| 探頭（二選其一）： | UV-313探頭 | UV-340探頭 |
| 波長范圍及峰值波長: | λ：(290～340)nm；λP＝313nm | λ：(315～370)nm；λP＝340nm |
| 紫外帶外區(qū)雜光： | UV313：小于0.05% | UV340：小于0.05% |
| 輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標(biāo)準(zhǔn)） | |
| 角度響應(yīng)特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 線性誤差： | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開機(jī)30min后） | |
| 響應(yīng)時間： | 1秒 | |
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 | |