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詳細摘要：基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數測試儀是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：c類數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質損耗裝置還能對固態絕緣材料的高頻介質損耗（tanδ）和介電常數(ε)，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等進行測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數測試儀符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：本公司創新的自動Q值讀取技術，使測Q分辨率至0.1Q。 DPLL合成發生1kHz～70MHz,測試信號。 低至20nH殘余電感，保證高頻時直讀Q值的誤差較小。 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。 Q值量程自動/手動量程控制。 數字化Q值預置，能提高批量測試的可靠性和速度。 產品型號：所在地： 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數測試儀 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：c類數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質損耗裝置還能對固態絕緣材料的高頻介質損耗（tanδ）和介電常數(ε)，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等進行測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：c類數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。 產品型號：所在地：介電常數測試儀 參考價：面議
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詳細摘要：c類數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質損耗裝置還能對固態絕緣材料的高頻介質損耗（tanδ）和介電常數(ε)，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等進行測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗角正切及介電常數測試儀 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法 產品型號：GDAT-C所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗測量儀空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：本臺儀器可測試固體材料、液體材料，高頻介電常數，低頻介電常數，工頻介電常數，如果您想了解更多請咨詢。謝謝 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的 物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗 和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法， 并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：gdat-c所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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北京北廣精儀儀器設備有限公司主營產品：絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀
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