SYPT-2平行平晶（千分尺計量建標專用）

一．產品簡介：

SYPT-2平行平晶（檢測千分尺計量建標專用）是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。平行平晶用用于干涉法測量檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

二．功能特點：
1.具有高精度的平面性和平行性。

2.采用A級光學玻璃，穩定性好，無色透明。

3.壽命長、不受環境溫度影響。

三．技術指標：
 每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
 測量面上平面度偏差： <0.1μm
 平面度局部偏差： 　  >0.03μm
 測量面平行度誤差：  組Ⅰ系列允差值：0.06μm
                     組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
                     組Ⅳ系列允差值：0.1μm

四．平行平晶規格分類：

平行平晶共分四個系列，每組四塊。

平行平晶尺寸系列表

五．工作原理：

平晶是利用光波干涉現象測量平行度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法（圖2）,也稱技術光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ，以單色光源照射時會產生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發生干涉而出現明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)

λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。