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| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,電氣,綜合 | 溫度范圍 | RT ～ 800/1100/1500℃ |
|---|---|---|---|
| 樣品尺寸（圓柱形或棱柱形） | 2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm | 樣品尺寸（圓盤狀） | 10、 12.7、 25.4 mm |
| 可調探頭距離 | 4、 6、 8 mm | 塞貝克系數測量范圍 | 1 ～ 2500μV/K 準確度±7%；重復性±3% |
產品簡介
詳細介紹
塞貝克系數電阻測試儀
HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀產品介紹
熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響，它基于三個基本效應：塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。塞貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發現的，描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。與之相反，熱電冷卻效應描述通過施加電流獲得溫度差的現象。電能和熱能的轉換效率是材料物理特性，用塞貝克系數S表征，其與溫度相關。
目前，使用化石燃料生成的二氧化碳導致全球變暖加劇，而人們也面臨能源枯竭的問題，利用熱電轉換元件收集余熱并有效利用引起人們的廣泛注意。另外，利用熱電冷卻效應進行制冷是熱電特性的重要應用。
隨著化石燃料越來越少，二氧化碳排放量不斷增加，全球變暖也在加劇，因此有效的熱電轉換越來越受關注。利用熱電發電機（TEG）收集熱機余熱（如汽車或傳統發電廠），并將其轉換成電能，以提高其轉換效率。同時，通過帕爾貼進行冷卻的應用也越來越受關注，例如激光器中的恒溫溫度臨界元件、優異熱電材料。通常根據無量綱優值ZT來衡量材料的熱電轉換效率，由熱導率、塞貝克系數和導電率計算得出。
由此，華測儀器研發了一系列簡單易用和優異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。
近年來直接將熱能轉化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發動機和燃燒系統余熱并轉換成電能可以節省數十億美元。
為了應對一系列挑戰性的應用，華測儀器已經開發出HC-RD-1100 塞貝克系數/電阻率測試系統用于分析材料和器件的特性。
HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀應用領域
熱電材料開發與性能優化
• 測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值（熱電優值）；
• 評估材料在高溫（如1500℃）或惡劣環境（真空/還原氣氛）下的熱電轉換效率。
能源材料與器件研究
• 鋰離子電池電極材料、固態電解質的電阻率與界面接觸特性分析；
• 燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試。
電子與功能材料表征
• 半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究；
• 高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定。
工業材料質量控制與工藝優化
• 合金、陶瓷、碳材料的熱-電協同性能檢測，指導燒結工藝參數調整；
• 高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況（如真空、惰性氣氛）下的電學行為評估。
科研與標準化測試
• 高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究；
• 依據國際標準（如ASTM E1225）開展材料熱電性能認證測試。
產品參數
產品型號：HC-RD-1100
溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃
測量原理；塞貝克系數：靜態直流法 ； 電阻率：四端法
氣氛：惰性、氧化、還原、真空
樣品支架：三明治結構夾與兩電極之間
樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm
樣品尺寸（圓盤狀）：10、 12.7、 25.4 mm
可調探頭距離：4、 6、 8 mm
塞貝克系數測量范圍：1 ～ 2500μV/K 準確度±7%；重復性±3%
電導率測量范圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準確度±5-8%；再現性±3%
電源：0 ～ 1A，具長期穩定性
電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）
熱電偶：K/S/C型
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