| 離子遷移普儀 型號：SDL-IMS | 貨號：ZH4103 |
| 產品簡介: 是一種用來探測空氣中痕量物質的方法，被檢測的樣品蒸氣或微粒離化形成離子，然后讓離子在弱電場中產生漂移，并測量出離子通過電場所用的時間，進而根據離子所用的漂移時間可以計算出離子的遷移率（遷移率的定義是指在單位電場強度作用下離子的漂移速度）由于在的條件下，種物質離子的遷移率互不相同，因而也就導致不同的離子通過電場的漂移時間不相同。這樣，我們就可以根據漂移時間的測量來間接達到對樣品的分離和檢測，IMS檢測和已經發展成熟的飛行時間質譜分析有些類似，不過，IMS不像質譜分析那樣工作在高真空條件下進行檢測，而是工作在大氣環境氣壓條件下，這是IMS檢測的一個特點，盡管IMS工作在大氣環境氣壓下，它的探測靈敏度仍然很高，可以達到（10-8—10-14）g，和質譜分析以及其他一些檢測相比，IMS有著諸如儀器簡單、體積小、重量輕、功耗低和分析時間快等許多優點，對行業所關注的化合物的分析起著重要的作用! 參數： 電離源：氚（氫的放射性同位素，beta放射器），活動50 MBq zui低檢出限：1ppb 耗電量：加熱單元zui多20W；帶加熱單元和解吸室zui多48w 電池壽命：自動運行狀態下大約4-6小時 顯示：數字式 4×40位 通信：RS232串行接口 運行溫度：－１０℃到８０℃ 尺寸：由實際需要所定 重量：約８ｋｇ（包括電池） |  |
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