高（電腦）造型材料發(fā)氣性測試儀 型號：WSPFQX-2000

一．概述
  1.發(fā)氣性是指型《芯》砂(或其它材料)試樣受熱后，在規(guī)定時間內(nèi)所發(fā)生的氣體毫升數(shù)量，稱發(fā)氣量，可用每克試樣發(fā)生氣體毫升數(shù)來表示。發(fā)氣性的另外一個含義是發(fā)氣速度，以試樣的發(fā)氣量與時間的關(guān)系曲線來表示。
  2.型〔芯〕砂(或其它材料)的發(fā)氣性與鑄件質(zhì)量有密切關(guān)系。當(dāng)金屬液澆注到砂型內(nèi)時，砂型和砂芯受到高溫金屬的熱作用，使砂型中的水份和各種附加物如粘土、煤粉等物質(zhì)產(chǎn)生大量氣體，而砂芯粘結(jié)劑所產(chǎn)生的氣體更為嚴(yán)重。
  3.例如：汽車、拖拉機(jī)和其他發(fā)動機(jī)的汽缸體、缸蓋等鑄件，由于形狀復(fù)雜，需用大量砂芯，發(fā)氣量很高。如果不經(jīng)常檢驗型〔芯〕砂的發(fā)氣性，鑄件就會產(chǎn)生氣孔缺陷，使廢品率增高。在控制濕型鑄鐵件所用的型砂質(zhì)量時，如果能夠經(jīng)常檢測型砂中較煤粉量，不僅可以合理使用煤粉，節(jié)約材料費(fèi)用，還可以提高鑄件表面質(zhì)量，降低廢品率。在使用樹脂砂時，通過檢測再生砂的發(fā)氣性，可以判斷其中樹脂的殘留量，可合理回用大量再生砂。總之，發(fā)氣性的測定有著廣泛的用途，對提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低廢品率、提高經(jīng)濟(jì)效益等方面均有重要作用。WSPFQX-2000型高電腦發(fā)氣性測試儀，在檢測儀器行業(yè)中是時代全電腦控制的高造型材料分析檢測儀器。它將的微電子、計算機(jī)以及傳感等應(yīng)用于材料發(fā)氣性，發(fā)氣量的檢測中。利用氣體壓力測量原理，實現(xiàn)發(fā)氣性各參數(shù)的自動測量，電腦適時顯示發(fā)氣性，發(fā)氣量全過程，繪圖打印分析結(jié)果。本儀器提示操作十分簡單方便，是現(xiàn)代化的鑄造實驗室*的儀器設(shè)備。

二．儀器特點與性能
  2.1儀器主要特點: 
    1.檢測及電路處理系統(tǒng)合理、抗干擾能力強(qiáng)、顯示數(shù)據(jù)穩(wěn)定、分析結(jié)果準(zhǔn)確、可靠。
    2.PC計算機(jī)WINDOWS XP平臺彩色中文操作系統(tǒng)，屏幕顯示及打印均采用漢字、鍵盤與鼠標(biāo)并用彩色畫面、界面清晰,提示清楚。操作簡單、方便。
    3.分析過程動態(tài)顯示記錄各項實時數(shù)據(jù)，發(fā)氣量曲線，迅間發(fā)氣量釋放曲線，發(fā)氣時間，測試溫度等。并對各項數(shù)據(jù)及曲線進(jìn)行儲存；查詢重現(xiàn)、打印等功能，便于科研工作。

4.電子天平不定量稱樣，以提高測量精度和分析測試速度，自動采集數(shù)鋸和手動輸入任意選擇。
    5.本發(fā)氣性測試儀能對環(huán)境溫度、爐溫以及壓力測量端溫度進(jìn)行自動測量和顯示，并利用計算機(jī)和自動溫度補(bǔ)償分別對高溫分解爐和壓力測量系統(tǒng)進(jìn)行自動控制。使分析結(jié)果穩(wěn)定可靠。
    6.采用美國SM公司的壓力傳感器可對常溫和高溫下的發(fā)氣量進(jìn)行數(shù)椐采集處理，數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠。
    7.對測量系統(tǒng)的溫度進(jìn)行恒溫控制，可以穩(wěn)定控制在105℃上。免除水分冷凝等因素對發(fā)氣性的影響，測量結(jié)果更準(zhǔn)確，更真實。
    8.本發(fā)氣性測試儀已采集的所有數(shù)據(jù)仍能完整地、無限制地保留在計算機(jī)FQX-2000操作系統(tǒng)的數(shù)據(jù)庫內(nèi)，以便進(jìn)行查詢顯示及打印輸出。
    9.系統(tǒng)功能強(qiáng)、故障率低、應(yīng)用范圍寬。計算機(jī)可脫機(jī)使用。
  2.2主要指標(biāo)
    1.測量范圍        0～300ml/g，測定量程可以任意設(shè)定；

2.測量精度        小于全量程的±1% ；
    3.分解爐溫度      室溫～1200℃，精度1級；
    4.測量系統(tǒng)溫度    室溫--120℃，精度1級；
    5.定時范圍       一般 0～150min；可以根據(jù)發(fā)氣情況設(shè)定，時間設(shè)定無限制；
    6.工作環(huán)境溫度    -5--45℃；濕度 85%；周圍環(huán)境應(yīng)相對穩(wěn)定。
    7.額定功率        不大于 4kW；
    8.電源電壓     AC220V±10%，50HZ；

三、儀器設(shè)備成套性
  1.主機(jī)1臺
  2.PC機(jī)（電腦）1套
  3.不銹鋼高溫分解爐1臺
  4.彩色噴墨打印機(jī)1臺
  5.電子天平、瓷管、瓷舟、工作臺等

功能特點：超大屏幕顯示，內(nèi)外雙路測溫，單路測濕，具時間功能，兩種放置方式。
參數(shù)：
◆測量范圍：溫度：室內(nèi)-30℃～+50℃  室外-50℃～+70℃
濕度：20％～99％
◆分辨率：溫度0.1℃  濕度1％
◆精度 ：溫度±1℃ 濕度±5％ （25℃ ） 
◆電源： 1.5V7#堿性電池
◆整機(jī)尺寸：107.8×100.8×21（㎜）
◆顯示尺寸：80×61（㎜）

定量采樣機(jī)器人   型號：HAD-BY-202PLUS

定量采樣機(jī)器人用于集中空調(diào)通風(fēng)系統(tǒng)通風(fēng)管道內(nèi)積塵量的定量采樣和檢測，定量采樣機(jī)器人配備前后雙攝像頭， 可通過全電腦使用無線方式進(jìn)行現(xiàn)場操控與視頻監(jiān)測 , 也能實現(xiàn)遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)視頻監(jiān)測。

產(chǎn)品特點

真正的全電腦軟件操作系統(tǒng)，操作簡單直觀

● 摒棄了傳統(tǒng)笨重控制箱和顯示屏 , 機(jī)器人重量僅 6 公斤

● 用筆記本電腦現(xiàn)場無線操控采樣與視頻檢測

● 車載電池?zé)o需外接電源，隨時隨地都可進(jìn)行現(xiàn)場檢測 , 靈活性更高，安全性更強(qiáng)

● 采樣機(jī)器人配備前后雙數(shù)碼攝像頭。前部 300 萬像素攝

像頭可垂直旋轉(zhuǎn)180 度, 水平旋轉(zhuǎn)360 度且與燈光聯(lián)動， 后部攝像頭為 200 萬像素。雙攝像頭組合成具有高清晰照明的數(shù)碼攝像系統(tǒng)，實現(xiàn)無盲區(qū)數(shù)碼監(jiān)測

● 的消除了前進(jìn)和后退的差異。.

● 爬越 7 厘米障礙

● 可爬 40 度 斜坡

● 采樣誤差度小于 5%

● 相對采樣偏差小于 3%

● 能到達(dá) 100×160mm 以上的矩形風(fēng)管內(nèi)部的規(guī)定部位

指標(biāo)

前進(jìn)、后退、左右行進(jìn) 前進(jìn)、后退、左右轉(zhuǎn)彎 , 原地掉頭 , 運(yùn)動

隨意、靈活

因沒有纜線的羈絆 , 可真正實現(xiàn)原地掉頭

單方向行走距離 沒有距離限制 , 管道內(nèi)任意行走 可在管道內(nèi)任意行走

越障功能

爬越 7 厘米高障礙物 優(yōu)于法規(guī)

爬越 40º 的斜坡 符合法規(guī)

采樣方法 刮吸法和擦拭法任意更換 在重度污染采樣刮吸比刮擦更準(zhǔn) , 清潔管

普通四探針方阻電阻率測試儀   四探針電阻測試儀  型號：HAD-FT-331

1. 描述

采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

二.參照標(biāo)準(zhǔn)standard：

硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

三.適用范圍Applicable scope：

適用于企業(yè)、高等院校、科研，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表

用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品

四.型號及參數(shù)Models and technical parameters

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀   四探針電阻率測定儀 型號：HAD-FT-341

1. 應(yīng)用說明Widely used：

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

二．描述Description：

采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響.

三.參數(shù)資料Parameters