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飛納(Phenom)半導體電子顯微鏡主要特點
*的光學系統的半導體電子顯微鏡、精密的機械機構長工作距離，景深大、分辨率高滿足現代電子設備、半導體、激光、LED、LCD、工業在線檢測和生物等領域的數碼成像觀察、檢驗和測量。視場光闌與孔徑光闌拉桿裝置，中心可調,能靈活調節照明范圍的大小，有效避免雜光對圖像的影響。起偏鏡與檢偏鏡可實現簡易偏光觀察，您也可根據需求，選擇不同顏色的濾色片獲得理想的觀察效果。
半導體電子顯微鏡粗微調焦機構，透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程28mm，微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調節機構，zui大樣品高度28mm。反射機架，低手位粗微同軸調焦機構，粗調行程28mm，微調精度0.002mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。帶平臺位置上下調節機構，zui大樣品高度78mm
飛納(Phenom)半導體電子顯微鏡主要特點
1.長壽命/高亮度/低色差CeB6燈絲；
2.表面細節豐富的高質量圖片；
3.內置彩色光學顯微鏡；
4.自動馬達樣品臺；
5.30秒快速成像，操作簡單；
6.光學與低倍電子雙重導航；
7.防震設計，對放置環境無牛條殊要求；
8.樣品倉低真空技術，直接觀測絕緣體，需噴金；
9.四分割高靈敏度背散射電子探頭，兼得樣品表面。