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掃描電子顯微鏡-微觀探尋者
掃描電子顯微鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過探測所產生的信號來獲取高分辨率的圖像。通過電子束與樣品表面交互產生不同類型的信號。電子束掃描樣品表面時，與樣品原子發生相互作用，產生的信號包括二次電子、反射電子、散射電子、透射電子等。這些信號經過探測和處理后，轉化為圖像或者其他形式的信息。本文將介紹掃描電子顯微鏡的原理、特點和功能，并為其命名為"微觀探尋者"。
掃描電子顯微鏡具有很高的分辨率，能夠觀察到微觀尺度的細節結構，甚至達到納米級別的分辨率。是一種非接觸式的觀測技術，不會對樣品造成破壞，適用于觀測不同類型的材料。可以探測多種信號，如二次電子、反射電子、散射電子等，從不同角度獲取樣品的特征信息。可以進行樣品的顯影和分析，包括能譜分析、成分分析、形貌分析等。
在繼承了 Phenom（飛納）產品操作方便、30秒快速成優質圖像、售后無憂等優點的同時，電鏡 分辨率和圖像質量顯著提高。 采用了壽命高達 1500 小時的新一代 CeB6 燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在 20-120 倍之間，具備明場和暗場兩種模式。
掃描電子顯微鏡是一種高分辨率、非接觸式的顯微鏡技術，能夠觀察微觀尺度的細節結構。"微觀探尋者"這個名稱寓意著掃描電子顯微鏡的功能和用途，能夠幫助科學家和研究者深入探索微觀世界，發現更多的奧秘和知識。