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定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數降至Z少，以提高生產效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
平衡多向磁場。
產品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數降至zui少，以提高生產效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
平衡多向磁場。
小型I試片
與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片上四個圓，可切割開，可單獨使用
件號：519631 型號：KSC-4-230小型I試片，每片上四個基圓，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸
產品關鍵字：KSC-4-230小型I試片