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LU-200J超聲波膜厚計超聲波膜厚計

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上海民儀電子有限公司
2024-08-14 10:34:04
上海市
上海
2774

【簡單介紹】

LU-200J超聲波膜厚計

【詳細說明】

測定方法	超聲波反射式
測定對象	樹脂、玻璃、金屬等基體上的涂鍍層
測定范圍	10～700um
測定精度	<50um±2um >50um±4%
分辨率	1um
統計功能	測試數/標準偏差 zui大值/zui小值/平均值

信號輸出	RS232標準接口
顯示方式	LCD數顯
操作面板	密封防水按鍵
附屬品	鐵基體/校正標準片/測頭/電池曲面支架/皮套/說明書
電源	5#堿性電池×6個
體積	本機120（W）×250（D）×55（H）測頭￠63×85（H）
重量	本機800g 測頭220g


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