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AF210數字式覆層測厚儀KTE凱特
AF210數字式覆層測厚儀/磁性便攜式覆層測厚儀KTE凱特
AF210數字式覆層測厚儀是磁性便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業*的儀器。
主要特點：
采用了磁性測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）;
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（GROUP）；
設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO.）、標準偏差（S.DEV）；
可采用兩種方法儀器起進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正;
具有存貯功能：可存貯500個測量值；
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析；
具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖；
具有與PC機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC機，以便對數據進行進一步處理；
具有電源欠壓指示功能；
操作工程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；
設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
測頭類型 | F | |
工作原理 | 磁感應 | |
測量范圍(μm) | 0~1250 | |
低限分辨率(μm) | 0.1 | |
示值 | 一點校準(μm) | ±(3%H+1) |
二點校準(μm) | ±[(1~3%H)+1] | |
測試條 | zui小曲率半徑(μm) | 凸1.5 |
zui小面值的直徑(mm) | Φ7 | |
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | |
覆蓋層基體 | 有機材料等非磁性覆蓋層(如：漆料、涂料塑料、搪瓷和陽極化處理等) |
如鐵、鋼等磁性金屬 | F性探頭 測量范圍：0μm~1250μm |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | N型探頭 測量范圍： 0μm~1250μm |