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| 應用領域 | 環保,地礦,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天 |
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天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀
產品說明、技術參數及配置
天瑞新型X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積探測器，可準確無誤地分析出黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結果符合國標GB/T 18043-2000要求。
黃金貴重，儀器貴精。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點在于高準確度、高分辨率、更清晰的攝像頭、一鍵式智能操作，一切讓貴金屬檢測如此簡單！
性能優勢
高分辨率：
采用FAST-SDD探測器 ，分辨率可達125ev ， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
高準確度，性能優：
使用25mm2大面積探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率大可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
清晰攝像頭，準確定位：
采用新型工業級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現精準定位。
小準直器，輕松實現精小部位測試：
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，可輕松實現精小部位的準確測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。
一鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的完整使用，只需一鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作一步到位。
儀器配置
移動樣品平臺
FAST-SDD探測器
數字多道分析系統
高低壓電源
大功率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質量：45Kg
天瑞EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
天瑞Skyray EDX3000PLUS X熒光貴金屬檢測儀
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