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作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN結勢壘區變寬，勢壘電容變小。......
產品簡介
詳細介紹
電容電壓特性測試儀 概述：
作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容）。加正向偏壓時，PN結勢壘區變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓時，PN結勢壘區變寬，勢壘電容變小。
LY.4-CV-2000型電容電壓特性測試儀是測試頻率為1MHz的智能化數字的電容測試儀器，于測試半導體器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。
面板上的發光二極管指示儀器的工作狀態，用數碼管組成的顯示板，將被測元件的數值，小數點清晰地顯示出來。儀器有較高的分辨率，電容量是四位讀數，可分辮到0.01pF，偏置電壓分辨力為0.1V，漏電流分辨力為0.01uA。
特點：
儀器配有LY.4-CV-2000型測量座，接插元件靈活，方便可靠。
本儀器測量技術較好，性能穩定可靠，功能齊全。
操作簡便，測試速度快，精度高。
應用：可廣泛應用于元件生產廠，科研部門，國防軍工，高等院校等各個部門。
技術指標 ：
測試信號頻率 1.000MHz±0.01%
測試信號電壓 小于或等于100mVrms
電容測量范圍 1.00pF～1000pF
工作誤差 ±3.0%±2字
直流偏壓 zui大100V
供電電源
交流電壓：220V±5%；
頻率： 50Hz±5%；
消耗功率：不大于40W；
工作環境
溫度：0—40℃；
濕度：20%~90%RH 40℃；