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無掩膜直寫光刻系統(tǒng)助力二維材料異質(zhì)結構電輸運性能研究

時間:2023-6-14閱讀:841

期刊:ACS Nano

IF:18.027

文章鏈接: https://doi.org/10.1021/acsnano.c09131

 

【引言】


MoS2是一種典型的二維材料,也是電子器件的重要組成部分。研究者發(fā)現(xiàn),當MoS2與石墨烯接觸會產(chǎn)生van der Waals作用,使之具有良好的電學特性,可廣泛應用于各類柔性電子器件、光電器件、傳感器件的研究。然而,MoS2-石墨烯異質(zhì)結構背后的電輸運機理尚不明確。這主要是因為傳統(tǒng)器件只有兩個接觸點,不能將MoS2-石墨烯異質(zhì)結構產(chǎn)生的電學輸運特性與二維材料自身的電學特性所區(qū)分。此外,電荷轉(zhuǎn)移、應變、電荷在缺陷處被俘獲等因素也會對器件的電輸運性能產(chǎn)生影響,進一步提高了相關研究的難度。盡管已有很多文獻報道MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的電輸運性能,但這些研究主要基于理論計算,缺乏對MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的電輸運性能在場效應器件中的實驗研究。

 

【成果簡介】


2021年,意大利比薩大學Ciampalini教授課題組利用小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3 制備出基于MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的多場效應管器件,在場效應管器件中直接測量了MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的電輸運特性。通過比較MoS2的跨導曲線和石墨烯的電流電壓特性,發(fā)現(xiàn)在n通道的跨導輸運被抑制,這一現(xiàn)象明顯不同于傳統(tǒng)對場效應的認知。借助第一性原理計算發(fā)現(xiàn)這一獨*的輸運抑制現(xiàn)象與硫空位相關。


本文中所使用的小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3無需掩膜版,可在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。設備采用集成化設計,全自動控制,可靠性高,操作簡便,同時其還具備結構緊湊(70cm X 70cm X 70cm)、高直寫速度,高分辨率(XY:<1 μm)等特點。靈活多變的前沿光刻技術,有助于MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的多場效應管器件的研發(fā)。

 

【圖文導讀】



圖1. 多場效應管器件結構。(a)通過化學氣相沉積法合成的石墨烯。(b)同樣用氣相沉積法合成的MoS2。(c)多場效應管器件的光學照片。右側(cè)示意圖中AB為石墨烯作為接觸點的MoS2場效應管,CD為MoS2-石墨烯異質(zhì)結構場效應管。



圖2. MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的拉曼測量結果。(a)MoS2被轉(zhuǎn)移到石墨烯前和轉(zhuǎn)移后的MoS2拉曼測量結果。(b)MoS2拉曼光譜中A1g峰與E2g峰的變化關系。圖中紅色實線代表MoS2無應變時A1g峰與E2g峰間的變化關系,藍色實線代表無摻雜時A1g峰隨E2g峰的變化。(c)在MoS2-石墨烯異質(zhì)結構中A1g峰的圖譜。(d)石墨烯未被MoS2覆蓋和被覆蓋后的拉曼結果。(e)石墨烯拉曼光譜中2D峰與G峰間的關系圖。圖中紅色實線代表無應變時2D峰與G峰間的變化關系,藍色實線代表無摻雜時2D峰隨著G峰的變化。(f)在MoS2-石墨烯異質(zhì)結構中2D峰的圖譜。



圖3. MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的光致螢光光譜(PL)測量結果。(a)有石墨烯時MoS2的PL光譜(橘色),無石墨烯時MoS2的PL光譜(藍色)。通過高斯擬合,獲得A和B激子吸收峰的位置。(b)MoS2-石墨烯異質(zhì)結構中A激子吸收峰的強度。(c)A激子吸收峰在MoS2-石墨烯異質(zhì)結構中的半高寬圖譜。



圖4. MoS2的輸運特性。(a)室溫條件下,MoS2在0-80V的VG范圍內(nèi)的I-V特性曲線。(b)轉(zhuǎn)移特性顯示出強烈的遲滯。紅色箭頭表面掃頻方向,紅色虛線為場效應移動的預計值。其中插圖為測量器件的光學照片,電極用黑色圓點表示。



圖5. MoS2覆蓋層對石墨烯的電子輸運的影響。(a,b)石墨烯上不同MoS2覆蓋面積的器件光學照片。(c-g)石墨烯上不同MoS2覆蓋面積的轉(zhuǎn)移特性,黑色覆蓋率0%,橘色48%,藍色 55%,黃色69%,紫色79%。



圖6. 硫空位對場效應的影響。(a)MoS2-石墨烯界面的能帶結構和態(tài)密度。(b)不同門電壓條件下,場效應所導致的電子和空位的分布。藍色表示電子,紅色表示空位。(c,d)在不同門電壓條件下,MoS2-石墨烯界面的側(cè)視圖以及硫空位(綠色)的位置。



圖7. 不同硫空位密度條件下,石墨烯導電性能計算值。

 

【結論】


Ciampalini教授課題組首先制備了MoS2-石墨烯二維材料的異質(zhì)結構,在此基礎上使用小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3制備了多場效應管器件。通過對多場效應管器件的直接測量,發(fā)現(xiàn)了MoS2覆蓋層對石墨烯電輸運性能的獨*抑制作用。為了更好地理解這一獨*電輸運現(xiàn)象,采用第一性原理的方法,計算了硫空位對石墨烯導電性能的影響。該工作為后續(xù)的石墨烯場效應電學及光電器件的研究和應用打下良好的基礎。同時,從文中也可以看出,課題組最主要的優(yōu)勢是能夠制備出基于MoS2-石墨烯異質(zhì)結構的多場效應管器件。在制備該器件過程中,需要及時修改相應的參數(shù),得到優(yōu)化的實驗結果,十分依賴靈活多變的光刻手段,小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3可以任意調(diào)整光刻圖形,對二維材料進行精準套刻,幫助用戶快速實現(xiàn)器件制備,助力電輸運研究



小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3


相關產(chǎn)品

1、小型臺式無掩膜直寫光刻系統(tǒng)- MicroWriter ML3:http://www.fzbnjj.com/st166724/product_16839518.html


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