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A型試片/靈敏度試片/探傷試片 型號:A1
型靈敏度試片用于零件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質的件,可以正確地選擇磁化規范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免 漏檢,正確地知道探傷作所需的電峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷作者的調試具。
點如下:
試片用于磁粉顯示,圖像直觀,使用簡便,對各類零件所方向的磁場,尤其檢查形狀復雜的零件時,表現其的優點。
性能規格:
試片=1(u)適用于靈敏度探傷,規格為(11-12)D;=2(
u)適用于中靈敏度探傷,為(8-9)D;=3(
u)適用于低靈敏度探傷,規格為(5-6)D。括號中分子為槽深,分母為試片厚度,單位為U(微米),D為件直徑。
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