1.半輻射率綜合檢測儀 型號：HAD-GAF

半輻射率綜合檢測儀 HAD-GAF適用標準：
GB/T2680-94《建筑玻璃可見光透射比、太陽光直接透射比、太陽能總透射比、紫外線透射以及有關窗玻璃參數的測定》；
ISO9050-1990《建筑玻璃可見光透射比、太陽光直接透射比、太陽能總透射比、紫外線透射以及有關窗玻璃參數的測定》；
ISO9050-2003《建筑玻璃光透率、日光直射率、太陽能總透射率及紫外線透射率及有關光澤系數的測定》；
JGJ/T151-2008《建筑門窗玻璃幕墻熱計算規程》；
HAD-GAF參數：
光度項目 標
設備尺寸 1200mm×620mm×320mm
檢測方法 光學測量法
光學波長范圍 190～3600nm（4.5um-25um）
光度準確度 ≤0.8%
波長準確度 ±0.3nm（開機自動校準）
波長重復性 ≤0.1nm
自動光譜帶寬 1、2、5、10、50nm
雜散光 < 0.01% （220nm，Nal；340nm，NaNO2）
光源轉換（紫外、可見、近紅外段） 自動切換（可在200nm～850nm～2600nm～3600nm波段范圍內自動設定）
光源（遠紅外） 2.5um-35um覆蓋范圍
光學測試附件 積分裝置、反射測量裝置、半積分
光度范圍 -4.0～4.0A
光度準確度 ±0.002A（0～0.5A）
 ±0.004A（0.5～1A）
光度重復性 ±0.3%T（0～T）
 0.001A（0～0.5A）
 0.002A（0.5～1A）
光度基線平直度 ±0.001A（190～1000nm）
 ±0.005A（1000～3600nm）
光度基線漂移 0.0004A/h（500nm，0A，預熱后）
噪聲 ±0.0004A

建筑玻璃測試標 檢測依據 GB/T2680-94；　　 JGJ/T151-2008
 紫外光透射比、反射比；
可見光透射比、反射比；
太陽光直接透射比、直接反射比；
太陽光直接吸收比、太陽能總透射比；
遮陽系數；遮蔽系數；半輻射率(選 配）；

主要點：
1.強勁的儀器性能：其優良的光學系統，的電子學系統，水準的機械系統，保證了0.010%T的低雜散光，度PID溫度控制及24位電壓數字采樣。
2.穩定可靠的：雙光束動態反饋比例記錄測光系統保證了基線穩定性，氘燈、光電倍增管等關鍵器件均用口件，保證儀器的穩定可靠和長壽命。
3.的測量：采用口優質息光柵，步降低儀器的雜散光，使儀器分析更加準確。
4.輕松效的人機對話：基于Windows環境的GAF系列智能型建筑玻璃紫外光透射比、反射比、可見光透射比、反射比、太陽光直接透射比、直接反射比、太陽光直接吸收比、太陽能總透射比、遮陽系數、遮蔽系數、半輻射率等中文操作軟件，提供了豐富的儀器控制和操作能，簡單易用，靈活效，輕松滿足使用者的分析需求。
5.優異的可擴展性：反射光學積分可選用附件、建筑玻璃遮陽系數用反射裝置，使儀器的應用范圍大大擴展。
6.設備維護簡單方便：的插座式鎢燈和氘燈，換燈時免去光學調試，使設備儀器調試、維護更加簡單方便。
7.日志記錄能：自動記錄用戶的操作；日志文件采用更為可靠的數據庫格式保存；管理員可對日志行分類查閱和其他處理。
8.采用綜合的光學及半輻射體測試系統，性價比，便于測試。
9.質量控制能：可根據用戶的設置對測量數據行監控；出控制范圍的數據系統將會顯示提示信息、行顏色標記或自動重新測量。
10.報告輸出能：可實現與其他系統共享數據的能；可將測量結果保存為Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可對報告格式行個性化的設置；可提前預覽結果報告的打印效果。

2.螺線管磁場測定組合儀 型號:HADHL-IV

用途和目的：

* 本儀器通過實驗可驗證霍爾電、霍爾電壓、勵磁電三者的關系。測定螺線管內外磁場強度分布，并可利用中心點磁感應強度理論值來校準霍爾傳感器的靈敏度。

* 儀器實驗裝置上所有轉換開關軍采用可靠性繼電器來轉換物理參量的方向，安可靠，操作方便，地延長了儀器的使用壽命。

參數及點：

* （GaAs）霍爾傳感器，N型半導體材料

* 作電：1s=0～100mA

* 霍爾元件靈敏度：大于10V/A.T

* 螺線管恒源：0～1.2A

3.納米微粒制備實驗儀 型號:DP-219

本實驗儀采用電阻加熱、氣體冷凝法制備納米微粒。采用真空泵對反應倉行真空抽吸，并利用惰性氣體行置換。原材料在真空反應倉被加熱至蒸發溫度時蒸發成氣相。氣相的原材料原子與惰性氣體的原子（兩分子）碰撞，迅速降低能量而驟然冷卻，形成原子簇，然后生長成納米微晶，終在收集器上收集到納米粒子。

標：

1、適用氣體：氮氣、氬氣、氦氣和空氣。

2、壓力范圍：0.01Kpa～120Kpa

3、加熱率：0～200W

4、數字顯示，含真空泵。

4.光速測定儀/光速檢測儀 型號:HADCY-IV

本儀器由光學系統和信號處理系統兩分組成，它根據光拍頻原理，通過光電轉換檢測，在普通示波器上同時觀察和兩束光的波形和相位，測量光程差和位相差，求得光速。

采用新的分頻、觸發措施，能在示波器上觀察到、清晰的波形。

實驗誤差＜±5‰(位相差=2n時)

頻率≈35MHz

激光管波長：6328Å

率＞1.5mW

連續作時間：≥20h

體積：1480×420×270mm³，適合普通桌面

5.磁天平/不銹鋼，分體式磁天平 型號:HAD-CTP-II

采用古埃法測量順磁和逆磁磁化率。主要結構有：電磁鐵和恒電源；數字式斯計；配有照明系統的控制盤。系統采用了PID電子調節，數字電源（0～10A無調節），水冷卻，使得儀器動態運行更加穩定可靠，防止因操作不當而成儀器損壞。

二、標：

* 磁鐵

型式：古埃型、單軛鐵

磁柱直徑φ40mm；磁隙寬度0～40mm（可調）；

磁場強度0.000～0.85T（d＝20mm），分辨率：0.1mT；

磁場均勻度＜1.5%（D＝20mm，d＝20mm）；

磁場穩定度＜1%hr；勵磁電范圍0～10A（可調）

分辨率：0.01A

勵磁線圈作溫度＜60℃

* 測磁系統：使用霍爾探頭的斯計

* 耗300W

* 天平靈敏度＜0.1mg（選配）

 溫馨提示：以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的