本實驗裝置主要面向大院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，的測試。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構簡單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作，實時顯示場信息及處理信息快等優點，故而應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
電子散斑干涉（ESPI）實驗裝 干涉實驗裝置 型號：TP-WSG-1
本實驗裝置主要面向大院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，的測試。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
該實驗裝置具有機構簡單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作，實時顯示場信息及處理信息快等優點，故而應用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
儀器點：
自己調節光路，可提動手能力；
采用了處理光學信息的CCD測量
計算機處理圖象，軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性：
CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、調整架、光學零件、被測樣品。
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