1.  激光息實驗/激光息實驗儀  型號:HAD-GOC-I

、實驗簡介

       激光息照相是利用記錄介質將物光波和參考光波的干涉條紋記錄下來——形成息圖；用激光束照射息圖，還原出原始物體的三維像。激光息照相在場顯示、無損探傷、息干涉計量和制作息光學元件等域有廣泛地應用。

二、實驗內容

      1、布置息光路；調整息記錄平面上的物光與參考光的光強比，調整物光光程、參考光光程，滿足息光源相干長度的要求；

      2、拍攝息圖（記錄物光波和參考光波的干涉條紋）；將底板行顯影和定影處理；

      3、用激光束照射息圖，再現原始物體的三維像；

      4、用參考光的共軛光波照射息圖，再現原始物體的實像。

三、儀器配置及參數

       息平臺，THN-1200外腔He-Ne激光器（＞25mW），息光路元件套，曝光定時器，Ⅰ型息干板

2.  燈泵浦體式固體激光倍頻、調Q實驗儀 型號:HAD-YAG-101

3. 燈泵浦分體式固體激光倍頻、調Q實驗儀  型號:HAD-YAG-201　

、實驗簡介

      燈泵YAG固體激光器是現在業上常用的款固體激光器。閃光燈泵浦激光器率，使用方便，已經普遍應用于手業等域。實驗產品配套納秒快速探測器，可對脈沖行定量測量，由于燈泵激光器輸出能量較大，本實驗時殊考慮了對強激光防護。

二、實驗內容

       1、燈泵YAG激光器諧振腔調諧實驗；           2、燈泵YAG激光器參數測量實驗；

       3、激光器腔鏡*輸出透過率選取實驗；     4、退壓電光調Q實驗；

       5、調Q脈沖參數測量實驗；                        6、激光倍頻實驗。

三、儀器配置及參數

       1、光源組件：

             激光波長：532nm、650nm、1064nm；

             輸出能量：1000mJ（1064nm，靜態），600mJ(1064nm，動態)，100mJ（532nm，

         動態）；

              光束發散角：≤5mrad；

              激光電源：充電電壓1200V（常規），輸出平均率1KW，放電頻率1、3、5、10；

          放電脈寬200μs，晶體壓1～5000V，調Q延時180μs（50～300μs）。

       2、探測器組件：

              速脈沖探測器模塊：光譜響應曲線400nm～1100nm，響應度1ns，自帶放大器。

       3、調Q晶體組件：

              調Q方式：退壓電光調Q，1～5kV（可調），調Q晶體：KD^*P晶體；

              半波電壓：3800V。

        4、光學組件

                激光輸出鏡Φ20mm，T=80%@1064nm，T=60%@1064nm，T=40%@1064nm，

        三種透過率。

        5、機械組件：

               光學導軌：L×W=600mm×90mm，配套滑塊；度調節鏡架；用調Q晶體同側

        四維調整機構，度0.002mm。

        6、激光防護鏡組件：防護波段：1064nm&532nm。

        7、實驗儀器外殼：

              外形尺寸：700mm×400mm×220mm，上開蓋氣動支桿連接，展開角度130°，12mm

         厚鋁制面包板。

        8、預留升接口

              升后可行升壓調Q、被動調Q實驗。

4.  固體激光材料熒光壽命的測量實驗儀  型號:HAD-GOP-I

、實驗目的

       掌握測量固體激光材料熒光壽命的方法巧及原理。了解熒光壽命對激光器及其電源所起的作用。

二、實驗原理

      固體激光材料的熒光壽命定義為：當激發源撒去以后，熒光強度有 I₀衰減到I₀的e分之時所需的時間。脈沖氙燈經電源激發后發出脈沖光束，當被測材料吸收了氙燈所發出的光后，處于基態能的激活粒子被激發到較的能，并在亞穩態能積累。當激發源撤去后，也就是閃光結束后，處于能態粒子的數密度將按數規律衰減。

N=N₀×e^-t／τ

因為發光強度與粒子密度成正比，所以熒光強度的衰減也滿足數規律即：

I=I₀×e^-t／τ

其中N_O和I₀分別是剛剛撒去激光源時亞穩態粒子密度和熒光強度。從以上的分析可知，我們可以利用測量熒光強度衰減規律的辦法還測量熒光壽命。

三、儀器配置與參數

        YAG固體激光器  光電探測器  電阻箱  電容箱  示波器

5.  光纖光譜儀應用綜合實驗儀 型號:HAD-RLE-SA02
、實驗簡介
       光譜儀式光譜檢測zui常用的設備。將光纖與CCD應用于微型光譜儀，可以大大提其穩定性和分辨率，微型光纖光譜儀的便攜性和性價比，使得光譜檢測從實驗室走向檢測現場，拓展了光譜儀的應用范圍。愛提斯開發了系列的光譜檢測實驗，適用于物理/化學相關業本科生業實驗應用。
二、實驗內容
      1、利用反射光譜測定印刷品顏色；
      2、利用透射光譜測定濾光片透過率；
      3、利用等離子體光譜測定氣體成分；
      4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。
三、儀器配置與參數
      1、光纖光譜儀
            分辨率：2.4nm@350～1100nm；
            靈敏度：40photons./count@600nm; 探測器：CCD線陣2048個像素；
            信噪比：200:1；                 動態范圍：2000:1；
            A/D轉換卡：16位，2MHz；       積分時間：1.1ms～10min；
           接口：UISB2.0,480Mbps；        采樣速率：1.1ms/scan；
           外型尺寸：175mm×110mm×44mm； 重量：720g。
     2、標準光源：
           波長范圍360nm～2500nm，率穩定性±0.1%，色溫2850K。
     3、積分：內直徑50mm，采樣口徑8mm。
     4、透射光譜測試組件：
          準直鏡：Φ5mm，SMA905接口；
          耦合鏡：Φ5mm，SMA905接口；
          待測鏡片：T=0.2～50%,Φ25.4mm。
    5、薄膜測厚樣品組件：
          介質膜，口徑Φ25.4mm。
    6、等離子體：惰性氣體放電輝光。
    7、顏色測量樣品：印刷品及標準白板。

溫馨提示：以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的