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方塊電阻測試儀 型號：HAD-DB1
本HAD-DB1方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。
由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電均不相同，因此HAD-DB1型測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電分7檔，可由0.4μA增加到zui大為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電均可連續調節，給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索*測試條件的寬闊空間。
由于儀器設有恒源開關，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電延時接通的能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞。
HAD-DB1儀器性能
方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□，zui小分辨率1×10-5Ω/□；
電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，zui小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m；
探針壓力：25g～250g；
探針曲率半徑：25μm～450μm
（注：探針壓力及曲率半徑可根據薄膜材料性能及用戶需求定制）；
測試電分7檔：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA；
測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續可調
（100mA檔） 8～36V連續可調
（1000mA檔） 8～15V連續可調；
測量方式：手動或自動（配置用測試軟件）；
測量對象：導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導體材料的電阻率。
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