Keithley 4200A-SCS 參數分析儀，使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

Keithley 4200A-SCS 參數分析儀

參數查看，快速清晰。
執行 CV 掃描的 4200A-SCS 和 4200A-CVIV 的正視圖
大膽發現從未如此簡單。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業知識可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。
特點：
•內置英語，中文，日語和韓語版本的測量視頻
•使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試
•自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點：
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態
 

穩定的低電流測量，適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，對高電容測試連接進行穩定的低電流測量
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量，而停機時間很少甚至沒有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通過高測試連接電容進行穩定的低電流測量
特點：
不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進行 飛安測量
多達 9 個 SMU 通道
針對長電纜或大卡盤進行了優化
 

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
晶片探測站前面的 Keithley 4200A-SCS 參數分析儀
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
•“點擊”測試定序
•“手動”探測器模式測試探測器功能
•假探測器模式無需移除命令即可實現調試