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單點開爾文掃描探針系統、開爾文掃描探針系統、開爾文探針、掃描探針系統、探針系統

這款單點開爾文掃描探針系統是用于室溫條件和普通實驗室條件下的開爾文掃描探針系統,Kelvin Probe System.它具有極為緊湊結構，可安放到各種環境箱或防塵罩中。
單點開爾文掃描探針系統的探針頭與振蕩薄膜一起使用，預放大器集成到探針頭中，方便更換。

開爾文探針系統參數

• 探針與樣品表面之間采用電動控制調節距離

• Z軸定位分辨率: 5 µm

• 功函分辨率: < 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals

• 小的探針直徑: 0.1 mm

• 集成法拉第防護功能

• 開爾文探針頭采用純金工藝，底板表面鍍金

• 樣品架磁性固定到底板上

• 樣品架直徑：40mm 帶有 3 mm 孔用于標準SEM樣品架子

• 大可測樣品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate)

• 振動隔離腿設計

• 包括參考樣品材料: HOPG, Au on Si

• 配備湯姆森控制器和計算機

• 可選配溫度和濕度傳感器

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