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供求商機
BM-KLX-顆粒圖像檢測儀
- 發布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產 地：
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- 2025年5月16日
- 2025年11月16日
- 上海上海市
- BM-KLX顆粒圖像檢測儀
- 199次
【產品簡介】
顆粒圖像檢測儀采用落射式柯勒照明，利用反射平行光原理觀察不透明反射物體表面結構及輪廓，輔以視頻采集系統、計算機軟件對生物細胞組織及微粒進行幾何測量分析。
【詳細說明】
| 顆粒圖像檢測儀采用落射式柯勒照明，利用反射平行光原理觀察不透明反射物體表面結構及輪廓，輔以視頻采集系統、計算機軟件對生物細胞組織及微粒進行幾何測量分析。 |
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