HITACHI日立是一家全球性的日立公司，通過互聯材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續，這些解決方案使生產和開發過程更加高效、自動化和綠色，以確保產品質量、可靠性和合規性。我們提供實驗室級和強大高性能現場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。

低雜散光、超大測光范圍

采用Czerny-Turner高光量單色器和新研發的光柵，實現了同級別設備最佳的低雜散光/超大測光范圍

*依據日立高新技術公司的調查結果，截至2019年4月日本的在售型號（支持測定近紅外波長區域、具有單色器）

低噪音、寬測定波長范圍

采用連續可變狹縫，在近紅外波長區測定低光量時，自動加寬狹縫；測定高光量時，自動減小狹縫寬度。支持低噪音測定超大范圍波長區域。

采用全新的數據處理軟件，操作更加便捷

新數據處理軟件在深受用戶好評的UV Solutions上作了進一步的技術升級。新增了數據表和數據處理結果的列表顯示功能、報告格式的自定義功能、儀器性能檢查功能。

提供豐富的配件，支持液體到固體樣品的測定

各種配件很全，滿足分光光度計的多種測定需求，如溶液中微量樣品的測定和片狀樣品、薄膜樣品等材料樣品的測定等。

各類日系工業品:,SSD西西蒂(離子風扇)、AND愛安得（電子天平）、SAN-EI三英(點膠閥） HOYA光源,KURABO脫泡機,USHIO牛尾照度計,Tsubosaka壺坂電機,IMV愛睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機,lambda拉姆達膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚（膜厚儀、粒度儀）,Hitachi日立（掃描電鏡）,MIKASA米卡薩（旋涂設備、顯影）、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克（檢查光源）、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子（光學膜厚儀）、KOSAKA小坂（臺階儀）、HORIBA堀場儀器（分析儀）、SIBATA柴田科學（環境測定）、TORAY東麗濃度儀（氧氣分析儀）、yamada山田鹵素強光燈、CEDAR思達