產品簡介

DPLS-4000 F 是DPLS-4000的升級版本，使用獨te的反符合設計與機器學習數據處理技術，可以測量微米級別厚度薄膜的正電子湮沒壽命，對于制備困難、物質量少的納米材料、薄膜材料是一種理想的無損表征手段。

DPLS-4000 F 同樣支持在非薄膜模式下工作，此時功能與基本型號DPLS-4000相似。

來源：安徽核芯電子科技有限公司

技術指標

• 時間分辨率≤230ps（使用Na-22 放射源測量正電子湮沒壽命譜）；

• 可測薄膜厚度≤2μm，可測薄膜厚度≥100μm；

• 具有一鍵設置功能， 自動設置所有測量參數，用戶無需調試直接使用；

• 具有自動校準功能，在測量過程中始終保持參數的穩定；

• 能量分辨率≤5.0%@1.275MeV；

• 時間采樣率≥5G/SPS；

• 幅度分辨率≥12位；

• 典型陽極脈沖上升時間≤0.8ns；

• 典型渡越時間分散≤0.37ns；

• 具有示波器功能；

• 能窗自動識別功能；

• 閃爍體探測器溴化鑭晶體尺寸≥Φ25mm x L15mm；

• 探測器集成分壓電路、磁屏蔽；

• 采用 Na-22 放射源，活度≥20µCi。