6433系列光波元件分析儀（10MHz～67GHz）

一、6433系列光波元件分析儀（10MHz～67GHz）概述

6433系列光波元件分析儀包括6433D（10MHz～26.5GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4個型號。6433系列光波元件分析儀是面向高速電光（E/O）器件、光電（O/E）器件、光光（O/O）器件特性測試的解決方案，調制頻率范圍覆蓋10MHz~67GHz，支持不同頻率范圍、頻率間隔、中頻帶寬的設置，頻率分辨率達到1Hz。6433系列采用一體集成的設計方案，通過寬帶硬件優化設計，構建網絡誤差模型，利用核心校準算法，實現一鍵式寬帶快速掃頻測試，主要用于現代高速光傳輸系統中核心的電光器件（電光調制器、直接調制激光器、光發射組件）、光電器件（PIN光電探測器、APD光電探測器、光接收組件）、光光器件（光纖濾波器等光無源器件）的帶寬、幅頻響應、相頻響應、群時延等參數測試.

二、6433系列光波元件分析儀功能特點

• 校準方便快捷，向導式操作流程

• 一體化多功能操作界面

• 大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

• 用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

• 單端-平衡光電器件模式測量

• 多功能化工具箱

• 內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

• 具備光源輸出功率快速自動校準功能

三、6433系列光波元件分析儀功能描述

• 校準方便快捷，向導式操作流程

6433系列光波元件分析儀在校準方面具有清晰的操作流程，主要包括電校準和光路參數校準，通過采用向導式操作提示為用戶提供快速高精度校準。

• 一體化多功能操作界面

6433系列光波元件分析儀具備了電電、電光、光電、光光四種測量模式，四種光電校準模式，功能模式之間可任意切換，滿足目前絕大多數通用器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。

• 大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

采用高精度和響應平坦的內部核心器件，結合設定不同的中頻帶寬值，可獲得更大的動態測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結果的更多細節。

• 用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

通過用戶自定數據或夾具去嵌入數據提升測量精度，尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。

• 單端-平衡光電器件模式測量

儀器可通過選用不同的配置，滿足單端-單端和單端-平衡的光發射或光接收器件或組件對差分增益和共模抑制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

• 多功能化工具箱

光發射與光接收結構一體化集成和功能互聯，內置大動態范圍光功率計，可實時監測輸入光功率數值，用于內外光源功率校驗；通過設置，為M-Z型LiNiO3調制器提供所需的保偏光源。光接收模塊絕對頻率響應大于-3dB，更好地提取微小信號；雙端口光接收測量，提供更寬的測量范圍選擇。

• 內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1610nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統核心器件測量需求。

四、6433系列光波元件分析儀主要參數

五、6433系列光波元件分析儀典型應用

• 電光器件特性分析

電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試，通過多窗口對比分析，用戶能更快獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性。

• 光電器件頻率響應特性測試

實現光電探測器等光電器件的10MHz~67GHz頻率響應測試，3dB帶寬快速分析及精準頻響測試可滿足科研、產品線等測試需求。

• 相頻響應特性分析

產品具有強大的相頻響應特性測量功能，快速分析光電器件相位、群時延等參數。