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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> 關聯工業掃描電子顯微鏡

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關聯工業掃描電子顯微鏡

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北京瑞科中儀科技有限公司一家是專門從事數碼光學顯微鏡及相關實驗室設備研發與銷售的新型高科技公司,也專注于半導體材料研究與分析設備的經銷和代理,為高校、企業科研工作者提供專業的材料分析解決方案,北京瑞科中儀科技有限公司長期代理銷售供應多種分子材料的研究分析設備,其中包括但不限于掃描電子顯微鏡、感應耦合等離子體化學氣相沉積系統、離子束刻蝕機、等離子清洗機、物理氣相沉積系統以及各品牌的光學顯微鏡以及實驗室設備儀器,以專業能力導向,精細工藝流程,用科學手段解決科研中遇到的難題.彼此協作,為我國的科研領域譜寫新篇章。

公司主要產品包括:生物顯微鏡、金相顯微鏡、偏光顯微鏡、體視顯微鏡、數碼顯微鏡、顯微鏡數碼相機照相接口、顯微鏡*冷光源、數碼圖像分析系統、測量顯微鏡、三座標測量顯微鏡,激光細胞顯微操作 拉曼顯微鏡光學儀器及設備/光學顯微鏡/熒光顯微鏡光學儀器及設備/電子顯微鏡/其它電子顯微鏡半導體行業專用儀器/其它半導體行業儀器設備其它半導體設備生命科學儀器/分子生物學儀器/PCR儀生命科學儀器/分子生物學儀器/基因測序儀生命科學儀器/分子生物學儀器/DNA合成儀半導體行業專用儀器/薄膜生長設備/其它薄膜沉積設備半導體行業專用儀器/光刻及涂膠顯影設備/無掩模光刻機/直寫光刻機

公司經銷代理品牌包括:蔡司顯微鏡,奧林巴斯顯微鏡,尼康顯微鏡,徠卡顯微鏡,國產各廠家顯微鏡, 華粵行 ,基恩士 , 日本電,日立 ,布魯克,三和聯, sentech(森泰克),SYSKEY(矽碁), PE(鉑金埃爾默)全系產品 ,天美愛丁堡,原子光譜,氣相色譜,PE(鉑金埃爾默)全系產品

代理經銷的產品種類包括,熒光顯微鏡,熒光顯微成像系統,激光捕獲顯微切割,全自動切片掃描,三維超景深顯微系統,動物超聲系統,3D超景深顯微鏡,形貌探測顯微鏡,蔡司共聚焦顯微鏡,全自動數字切片掃描,病理切片掃描,激光切割顯微系統,立體顯微鏡,國產激光共聚焦顯微鏡,精準醫學顯微切割,激光顯微切割系統,按需搭建顯微系統,熒光光譜儀,激光細胞顯微操作 拉曼顯微鏡光學儀器及設備/光學顯微鏡/熒光顯微鏡光學儀器及設備/電子顯微鏡/其它電子顯微鏡半導體行業專用儀器/其它半導體行業儀器設備其它半導體設備生命科學儀器/分子生物學儀器/PCR儀生命科學儀器/分子生物學儀器/基因測序儀生命科學儀器/分子生物學儀器/DNA合成儀半導體行業專用儀器/薄膜生長設備/其它薄膜沉積設備半導體行業專用儀器/光刻及涂膠顯影設備/無掩模光刻機/直寫光刻機


公司成立伊始,即本著“以人為本,誠信發展,合作共贏"的企業宗旨,快樂中結識新朋友,穩步中追求新發展。目前公司已經擁有一支由專業技術人員、營銷人員和維修人員組成的強大隊伍,竭誠為廣大客戶提供包括技術咨詢、產品配套、安裝調試、應用指導、維護保養在內的整套細致入微的服務。同時公司還依托中國地質研究院、清華大學、中國農業大學、中科院等科研院所的強大技術實力,特聘多名教授、博士作為我公司提供多方面的技術支持。

公司儲備各顯微鏡現貨,只要您有需求,我們就能隨時為您提供各種產品選配服務。公司管理層、營銷隊伍和技術人員都具備多年的專業技術經驗,相信我們的質量和服務一定是顯微光學領域中無法可比的。

北京瑞科中儀科技有限公司秉承“專業的人員,過硬的技術,優秀的產品"精神,為您提供專業、及時、周到的技術服務,北京瑞科中儀科技有限公司必將成為您值得信賴的伙伴!












顯微鏡,激光共聚焦,電鏡,x射線,激光捕獲顯微切割,熒光成像系統,DNA/RNA合成儀,半導體行業儀器設備,生命科學儀器,光刻機,

產地類別 進口 應用領域 環保,生物產業,石油,制藥/生物制藥,綜合

關聯顯微鏡

解決方案的優點

為了獲得樣品的實質,關聯工業掃描電子顯微鏡需要經常使用多種方法進行分析。從微米級到納米級的觀察需要將光學與電子顯微鏡(CLEM)或X射線顯微鏡與FIB-SEM聚焦離子束掃描電子顯微鏡(CXF)進行相關聯。蔡司的關聯顯微鏡技術為您提供了集成化的解決方案和無縫銜接的工作流程。選擇蔡司作為光學顯微鏡、電子顯微鏡、離子束顯微鏡和X射線顯微鏡的供應商,并從多年的關聯分析經驗中受益。選擇以樣品為中心的圖像和數據關聯技術,使您的研究工作超越單一顯微鏡能夠達到的技術界限。

  • 獲得對樣品的見解

  • 無縫地從微米級別轉移到納米級別

  • 采用簡化的工作流程在更短的時間內獲取更多數據

  • 受益于強大的圖像和數據關聯處理性能

  • 從2D到4D獲取,處理和分析數據

  • 使用關聯顯微鏡技術中的蓋玻片和夾具進行準確和高效的工作

  • 關聯工業掃描電子顯微鏡

蔡司關于增材制造的關聯顯微鏡技術解決方案

深入理解并改善缺陷檢測,并從根源抑制缺陷產生

特點

  • 深入了解缺陷的產生; 如雜質,殘留物,不正確的幾何形狀

  • 了解 CAD圖紙中的材料屬性,粉末質量,激光參數和布局等屬性的影響

  • 使用高襯度,高分辨率成像以區分材料中不同的相

  • 關聯工業掃描電子顯微鏡在微觀結構內非破壞性地確認三維亞表面特征

蔡司關聯顯微鏡技術已被證實可成功識別3D打印部件中的雜質,并通過應用多個工作流程來了解其產生原因。蔡司Xradia Versa被用來進行大范圍掃描,然后將可疑的亮點位置轉移到蔡司 Crossbeam中,并用蔡司Atlas 5重新定位,最后利用EDX進行分析。這種方法可以識別雜質的來源,這些雜質往往來自于之前的3D打印作業,由于使用了不同的粉末材料而未能清潔粉末容器而引入的。

蔡司關于研究納米顆粒結構和化學分析的關聯顯微技術

提供納米級別材料的定量,高分辨率分析

特點

  • 納米顆粒和納米材料的可視化

  • 觀察納米材料的結構信息

  • 對輕元素和官能團的量化研究

為了使用光學顯微鏡檢測納米顆粒和納米材料(如石墨烯),研究人員使用蔡司Axio Imager顯微鏡優異的偏振光襯度,并將其與蔡司全干涉襯度(TIC)模塊相結合,使得可以對納米材料的厚度進行檢測。接下來,使用關聯顯微鏡技術,使蔡司 FE-SEM可對石墨烯薄片重新定位,以便能夠觀察其結構和化學成分。由于類似碳元素和官能團之類的輕元素通過EDX無法進行表征,研究人員使用蔡司原位拉曼顯微鏡(RISE)進行研究,從而獲得石墨烯片的質量信息。

關聯顯微鏡顆粒度分析 - 更豐富的圖像信息、更高的圖像質量

表征對工藝流程起決定性作用的顆粒。關聯 Particle Analyzer 將光學顯微鏡與電子顯微鏡兩者的分析數據相結合。使用光學顯微鏡檢測到顆粒后,您可以借助蔡司關聯顯微鏡顆粒度分析自動完成顆粒的重定位和 EDX 分析。它是完整表征殘留顆粒的理想方法。

關聯 Particle Analyzer 會以報告的形式自動記錄光學顯微鏡和電子顯微鏡兩者的分析結果。關聯顯微鏡顆粒度分析儀比單獨先使用光學顯微鏡然后再使用電子顯微鏡的分析方案速度要快 10 倍多。






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