在工業過程控制分析中，分析儀器的靈敏度、精度及分析速度是至關重要的。SPECTROiQ II 在這一領域已建立了相應標準。全新的SPECTROiQ II在此基礎上進一步改進了技術，提高了操作簡便性和可靠性。

在許多情況下，偏振X射線熒光光譜儀SPECTRO iQ II在測定主要成分的精度及重要痕量元素的靈敏度可以同價格昂貴的波長色散型X熒光光譜儀相媲美，以往只能用波長色散型X熒光光譜儀完成的分析任務，現在通過SPECTROiQ II*的偏振能量色散型儀器即可出色地完成。

偏振X射線熒光光譜儀SPECTRO iQ II 采用低能量X射線管和新開發的C－Force偏振光學系統，確保了對樣品中元素的佳激發。使用Pd準直器，SPECTROiQ II
具有分析低含量Zr、Mo等元素的能力。在僅僅幾百秒的分析時間內，即可測定油中的超低硫含量。因此，新開發出的SPECTROiQ II
具有佳的分析輕元素的能力。

SPECTROiQ II軟件的特點：簡單明了。圖文式用戶操作界面，使日常操作所相關的重要功能清晰明確。觸屏操作，更為簡單直觀。