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D8 X射線衍射儀

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XRD 布魯克D8 advance地質(zhì)

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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂觀,正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來質(zhì)量較高的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供完善的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天、國(guó)家機(jī)關(guān)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及工業(yè)企業(yè),產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。公司的宗旨:為客戶量身打造適合的綜合解決方案,技術(shù)支持和現(xiàn)場(chǎng)服務(wù),系統(tǒng)高效的客戶培訓(xùn),快速及時(shí)的售后服務(wù)。

束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

主營(yíng)儀器設(shè)備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀(ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國(guó)布魯克Bruker 授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫(kù)、JADE軟件--國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等--德國(guó)Freiberg Instruments授權(quán)代理商



單位名稱:束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室









MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè)
產(chǎn)品:布魯克D8達(dá)芬奇X射線衍射儀  
型號(hào):D8Advance  
產(chǎn)地:德國(guó)  

布魯克AXS公司全新的D8ADVANCEX射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無需對(duì)光。通過革命性的TWISTTUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問題從此成為歷史!  

X射線衍射儀

高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰(注意不是一個(gè)衍射峰)的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!  
*的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率,而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

主要應(yīng)用:
1、物相定性分析  
2、結(jié)晶度及非晶相含量分析  
3、結(jié)構(gòu)精修及解析  
4、物相定量分析  
5、點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量  
6、無標(biāo)樣定量分析  
7、微觀應(yīng)變分析  
8、晶粒尺寸分析  
9、原位分析  
10、殘余應(yīng)力  
11、低角度介孔材料測(cè)量  
12、織構(gòu)及ODF分析  
13、薄膜掠入射  
14、薄膜反射率測(cè)量  
15、小角散射
 
技術(shù)指標(biāo):  
Theta/theta立式測(cè)角儀  
2Theta角度范圍:-110~168°  
角度精度:0.0001度  
Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管  
探測(cè)器:林克斯陣列探測(cè)器、林克斯XE陣列探測(cè)器  
儀器尺寸:1868x1300x1135mm  
重量:770kg  

TWIN / TWIN 光路
布魯克獲得專屬發(fā)明的TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡(jiǎn)化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,且無需人工干預(yù),是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。

X射線衍射儀


動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化(DBO)
布魯克獨(dú)_有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能,可為您提供無可_替代的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí)。除此之外,LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

X射線衍射儀


LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上只有這一個(gè)一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,適用于所有波長(zhǎng)(從Cr到Ag),具有頂點(diǎn)的計(jì)數(shù)率和更好的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實(shí)出色,是市面上性能更好的熒光過濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它,您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會(huì)除去強(qiáng)度的二級(jí)單色器。

X射線衍射儀

XRPD方法:

· 鑒別晶相和非晶相,并測(cè)定樣品純度

· 對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析

· 微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸、微應(yīng)變、無序…)

· 熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力

· 織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析

· 指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修


X射線衍射儀

對(duì)分布函數(shù)分析

對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長(zhǎng)程有序),通過漫散射,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序)。

就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,D8 ADVANCE和TOPAS軟件替代了市面上性能更好的PDF分析解決方案:

· 相鑒定

· 結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修

· 納米粒度和形狀


X射線衍射儀

薄膜和涂層

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度操控功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),著重對(duì)厚度在nm和µm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜)。

D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析:

· 掠入射衍射

· X射線反射法

· 高分辨率X射線衍射

· 倒易空間掃描

X射線衍射儀




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