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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> TESCAN XEIA3 FIB-SEM雙束電鏡

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TESCAN XEIA3 FIB-SEM雙束電鏡

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上海永傲精密儀器有限公司是系統集成商,我們的團隊由多年從事清潔度測試儀,業納計量儀器 ,業納工業顯微相機,光學軸類測量機,奧林巴斯金相顯微鏡,科研相機,電動位移臺集成的設計,自主研發,服務,銷售人員組成,并向國內外各大汽車零部件生產商提供優質服務,向用戶提供清潔度工業檢測領域個性化,定制化的清潔度檢測系統方案。

清潔度測試儀,業納計量儀器,業納工業顯微相機,光學軸類測量機,奧林巴斯金相顯微鏡,科研相機,電動位移臺

價格區間 400萬-500萬 儀器種類 場發射
應用領域 醫療衛生,生物產業,鋼鐵/金屬,公安/司法,綜合

XEIA3 集非凡的超高分辨成像能力和優異的微細加工于一體。強大且超快速的微/納米 FIB 加工、低能電子束下的超高分辨率(UHR)、超快且可靠的微量分析和三維重構功能,使得 XEIA3 成為一款理想易用的 FIB-SEM 系統。

Triglav™ -新型超高分辨率 ( UHR ) 電子光學鏡筒

  • TriLens™物鏡系統:*的電子束無交叉模式與超高分辨率物鏡相結合
  • 具有多個 SE 及 BSE 探測器的*探測系統
    • TriSE™+ TriBE™
  • Triglav™ - 低加速電壓下的超高分辨率:1 nm (1 kV ), 0.7 nm (15 kV )
  • EquiPower™ 進一步提高電子束的穩定性
  • 電子束流高達 400nA,并能實現電子束能量的快速改變
  • 優化的鏡筒幾何設計大可容納 8” 晶圓

 

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