掃描電鏡（SEM）技術參數：

1、分辨率1.0 nmat 15 kV；1.7 nm at 1 kV；4.0 nmat 0.1 kV

2、加速電壓0.1-30kV
3、放大倍數12-900000
4、探測電流4pA-20nA
5、電子槍：熱場發射

掃描電鏡（SEM）應用范圍：

　　用于觀察樣品的表面形態、斷口形貌、磨損表面形貌、納米結構材料形態、生物樣品形貌等；結構分析、成分分析。廣泛用于材料學、機械學、微電子學、生物學、醫學等領域。

公司合作的大型儀器設備主要有頂端的透射電鏡（包括球差電鏡、FEI廠家的Tecnai G²F20、Tecnai G² F30），美國和德國的場發射掃描電子顯微鏡、美國賽默飛的光電子能譜儀（XPS  ESCALAB250Xi），法國的拉曼（LabRAM HR Evolution），麥克儀器公司的物理吸附吸附儀、化學吸附儀，粉末X射線衍射儀（D-MAX 2500/PC）等二十余臺大型設備，服務對象主要有青島、武漢、西安、上海、北京、哈爾濱等各大城市的高校及研究所，面向全國各地。