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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> Apreo掃描電子顯微鏡FEI電鏡

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Apreo掃描電子顯微鏡FEI電鏡

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廣州嶺江光學科技有限公司始終致力于精密光學制造技術和計算機圖象處理技術的研發,從事發展光學、精密機械、計算機相結合的光學儀器開發和銷售。

公司主要產品包括:生物顯微鏡、金相顯微鏡、偏光顯微鏡、體視顯微鏡、數碼顯微鏡、顯微鏡數碼相機照相接口、顯微鏡冷光源、數碼圖像分析系統、測量顯微鏡、三座標測量顯微鏡及顯微鏡價格查詢等。

公司經銷產品包括:德國蔡司顯微鏡、日本歐林巴斯顯微鏡、日本尼康顯微鏡,德國徠卡顯微鏡等多家進口產品。公司產品廣泛應用于農牧、輕工、機械、電子、冶金、醫療、化工等行業與衛生、教育、國防等部門及各大專院校 、科研單位。

同時更擁有一支專業從事產品開發及工藝研究的技術和管理團隊,以技術和響應雙優勢,為國內用戶不斷提供專業、有效的光學解決方案,同時更具備較強的市場開拓能力、光機電領域技術與產品的開發制造能力。

公司集開發、制造、銷售及服務為一體,全過程質量更為穩定可靠,可根據客戶的不同需求,提供光學零件設計、計算機圖像處理軟件開發及產品選型等技術服務。*儲備各種顯微鏡現貨,只要您有需求,我們就能隨時為您提供各種產品選配服務。公司管理層、營銷隊伍和技術人員都具備多年的專業技術經驗。

作為研發、生產和銷售精密光學儀器的企業,我們崇尚“誠信、專業、服務”的企業理念;始終以"做企業,創"為發展目標;進一步貫徹;“以市場為指向、以技術為根基、以服務為重心”的經營理念;進一步實現“以人為本,誠信發展,合作共贏”的服務宗旨;履行“合格出品,精益求精周到服務”的服務承諾,愿與客戶攜手跨入高科技的新時代,更真誠的希望得到各界朋友的指導和支持,并在此感謝與我公司合作的朋友。

 

 

 

 

 

顯微鏡,顯微鏡相機,熒光模塊,顯微鏡配件,高速相機

價格區間 面議 儀器種類 場發射

Apreo掃描電子顯微鏡FEI電鏡,Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有廣泛 地適用性,可以在fe時間內為材料研究人 員提供的成像質量。當Apreo的電子束打開,形貌和成分襯度可以同時被鏡筒內探溉系統呈 現:無需繁瑣操作,即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大倍率 下,Apreo的長工作距離(如10mm分析工作距離)也能表現出杰出的分 辨性能。

即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上,Apreo的用戶界面也可 以高效地引導操作者獲得表征該納米結構的*參數條件Apreo能在短 時間內解決錯綜復雜的研究問題,適用于需要多功能以及多用戶操作的應用 場合。

Apreo掃描電子顯微鏡FEI電鏡Apreo是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,其創新的末 級透鏡設計,絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。靜電式末級透鏡 (Apreo CApreo S)能夠實現鏡筒內多種信號的同時探測和高分辨 率,而Apreo S則結合靜電、浸沒式磁場的S合透鏡以進一步提高低電壓 下的分辨率,在1 kV加速電壓下的分辨率為10 nm,不需要電子束減速。 通過將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現*的信號過濾功能。

Apreo擁有透鏡內背散射探測器T1,其位置緊靠樣品,確保在較短的時間 內獲得大.5的采集信號。與其他背散射探測器不同,這種快速的探測器在 導航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏 感樣品時,探測器的*性能尤為突出,即使電流低至幾pA,它也能提供 清晰的背散射罔像〇 Apreo S復合末級透鏡通過能量過濾實現高質置的材料 襯度以及絕緣樣品的無電荷成像,進一步提高了 T1 BSE探測器的使用價 值。Apreo還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力,例如定向背散射 探測器(DBS)、STEM 3+和低真空氣體分析探測器GAD)。所有這些探 測器都擁有優異的軟件控制分割功能,以便根據需求選擇有價值的樣 品信息。

主要優勢

全面實現麟分難能,從納米顆粒,粉末,雛劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料^3

有效的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度,即使 是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品 進行TV速率成像是也不例外

無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結合, 用戶能夠獲得至關重要的對比或信號強度。

各種各樣的荷電緩解策略,包括樣品倉壓力大為500

Pa的彳^空模式,可實現任何樣品的成像。

的分析平臺提供高電子束電流,而且束斑很小。倉室

支持三個EDS探涵器、共面的EDSEBSD以及針對 分析而優化的低真空系統。

樣品處理和導航極容易,具有多用途樣品支架和

Nav-Cam+0

通過高級用戶指導、預設^撤消功能為新用戶提 供專家級結果,

每個Apreo都按標準配備各種用以處理絕緣樣品的策略,包括:高真空技 術,例如SmartSCAN™漂移補償幀積分(DCFI)和電荷過濾。對于有 挑戰性的應用,Apreo可提供電荷緩解策略。其中包括可選的低真空(大 為500 Pa)策略,通過經現場驗證的穿鏡式差分抽氣機構和低真空探 淝器,不但可以緩解任何樣品上的電荷,還能提供的分辨率和較大的分 析電流。

隨著分析技術的使用越來越常規化,Apreo倉室經過全新設計,以便更好 地支持不同的配件和實驗。倉室多容納三個EDS/WDS端口,可實現 快速敏感的X射線測置、共面EDS/EBSD/TKD排列并與(冷凍CL拉曼、EBIC和其他技術兼容。

所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的xT UI獲得,節省了新用戶 和專家級用戶的時間。可自定義的用戶界面提供了諸多用戶指導、自動化和 遠程操作選項。

通過所有這些優勢(包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理Apreo可提供出色的性能和多功能性,幫助您應對未來多年的硏究難題。

 

電子光學器件

高分辨率場發射SEM鏡筒,配有:

-高穩定性肖特基場發射電子槍,用于提供穩定的高分辨率分析電流

-復合末級透鏡:靜電、無磁場和浸沒磁技術結合而成的物鏡*

-60°物鏡幾何結構:支持傾斜較大的樣品

自動加熱式光闌,可確保清潔和無接觸式更換光闌孔

支持低真空*的穿鏡式差分抽氣結構,可減少電子束裙散效應,以 實現精準的分析和大的分辨率

載物臺偏壓在-4000 V+600 V之間的電子束減速

•持續的電子束電流控制和經過優化的孔隙角度

•雙載物臺掃描偏轉

輕松安裝和維護的電子槍-自動烘烤、自動啟動、無需機械合軸 保證的短燈絲壽命:12 ^月

電子束參數

電子束電流范圍:1卩八-400

•加速電壓:200 V—30 kV

•羞陸能置范圍:20eV-30keV

大水平視場寬:10 mm工作距離下為3_0 mm (對應于 小放大倍率x29)

倉室

•內寬:340 mm 分析工作臟:10 mm



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