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顆粒測試學(xué)術(shù)論文集
我公司現(xiàn)有少量《中國粉體技術(shù)》專輯一書,詳細(xì)登載了顆粒測試會議的全部學(xué)術(shù)論文。論文包括顆粒測試方法的研究以及應(yīng)用,幾乎涵蓋了目前顆粒測試的所有相關(guān)內(nèi)容。
本書原價150元,現(xiàn)五折銷售。數(shù)量有限,如有需要者,請盡快與我公司。:
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